올바른 터치를
통한 광학 솔루션
ZEISS O-INSPECT
ZEISS O-INSPECT 멀티 센서 측정기를 사용하면 ISO-10360에 따라 광학 또는 접촉식으로 각 특성을 최적으로 측정할 수 있습니다.
높은 이미지 선명도를 가진 넓은 시야
빠르고 정확한 3D 촉각 측정
민감한 표면에 대한 광학 측정
더 짧은 시간에 신뢰성 향상
기능
민감한 표면에 적합한 광학식 측정
ZEISS DolScan은 비접촉식으로 측정물 형상을검사 할 수 있는 측정 헤드입니다. 표면이 민감하거나 반사되는 경우 또는 대비도가 낮은 탓에 다른센서를 사용하기 어려운 경우에 대안으로 사용할 수 있습니다.
ZEISS Discovery.V12 카메라 센서는 다양한 배율을 지원합니다. 이 센서의 새로운 옵션을 사용하면 우수한 해상도로 가장 작은 부분까지 검사할 수 있습니다.
빠르고 정확한 3D 접촉식 측정
전방위 측정
회전 테이블(옵션)과 프로그래밍이 가능한 회전 축으로 ZEISS O-INSPECT를 보강하면, 모든 방향에서 대상의 특성을 검사할 수 있습니다. 팔레트에 회전 테이블을 결합하여 다양한 특정 위치를 확보하고 설정 시간을 단축할 수 있습니다.
ZEISS VAST XXT는 측정 장비 중에서는 이례적으로 단 한 번의 이동으로 많은 측정 포인트를 스캐닝하여 높은 검사 정확도를 제공합니다.
ZEISS PiWeb은 클릭 한 번으로 측정 데이터를 문서화하거나 시각화하여 부품과 공정에 관한 유용한 정보를 제공합니다.
정밀도 향상 및 시간 절감
자동 온도 감지용 인터페이스를 갖춘 통합 팔레트 시스템을 사용하면 시간을 절약하면서 검사의 신뢰도를 높일 수 있습니다.
모든 분야에 최적회된
소프트웨어
ZEISS CALYPSO 측정 시간을 절약할 수 있는 시각화 옵션을 제공합니다. CAD 모델을 중첩해서 표시할 수 있으며, 데이터 편차(실제 수치와 모델링 수치 비교)를 단시간에 확인할 수 있습니다. ZEISS CALYPSO는 다양한 옵션을 제공하므로 특수한 요건에도 사용할 수 있습니다.
전문적이고 실효성 있는 보고서
넓은 시야 및 높은 해상도
우수한 광학 장치
넓은 시야
고화질 이미지
ZEISS Discovery.V12 카메라 센서는 다양한 배율을 제공합니다. 기존 렌즈에 비해 4배 더 넓은 시야를 제공할 뿐만 아니라 주변 영역에서도 뛰어난 이미지 충실도를 제공합니다. 그 결과, 측정 시간이 단축되고 정확도가 극대화됩니다.
scout 160과 scout 240의 두 가지 새로운 센서 옵션은 훨씬 더 높은 광학 해상도를 가능하게 합니다. 대체 센서 장치를 사용하면 표준 100 변형의 광학 해상도의 1.6배 또는 2.4배를 얻을 수 있습니다.
최적의 콘트라스트
ZEISS O-INSPECT 조명 시스템
정확한 결과를 얻으려면 고대비 이미지가 필요합니다. ZEISS O-INSPECT는 이를 위한 다용도 조명 시스템을 갖추고 있습니다. 매우 다양한 모양, 질감 및 표면 색상을 조명하여 다양한 입사각을 구현하여 가장자리를 명확하게 강조할 수 있습니다.
멀티센서 기술
촉각 측정
매우 높은 정확도 필요한 경우 올바른 선택입니다. ZEISS VAST XXT와 같은 촉각 프로브는 부품의 표면을 한 지점씩 스캔합니다. 또한 스캔 기능을 추가하여 기능 형태에 대한 정보를 제공합니다.
광학 측정
ZEISS Discovery V12 줌 렌즈는 왜곡없는 넓은 시야를 제공하여 측정 결과를 매우 정확하게 측정하고 측정 시간을 크게 단축 합니다.
백색광
색채 백색광 센서인 ZEISS DotScan을 사용하면 공작물 직형을 비좁촉식으로 캡처할 수 있스니다. 민감하거나 반사되거나 대비가 낮은 표면으로 인해 다른광학 센서를 사용하기 어려울 떄 사용합니다.
보는 것과 만지는 것의 완벽한 공생
소프트웨어
모든 측정 작업을 위한 하나의 소프트웨어
ZEISS CALYPSO를 사용하면 ZEISS CONTURA와 같은 포털 측정기에도 사용되는 범용 측정 소프트웨어를 사용할 수 있기 때문에 ZEISS O-INSPECT는 소프트웨어에 관한 한 인색하지 않습니다.
ZEISS CALYPSO는 기능적 다양성과 유연성을 결합한 직관적인 작동 개념으로 깊은 인상을 남깁니다. 프로그래밍은 CAD 모델에서 원하는 측정 요소를 마우스로 클릭하거나 센서에 관계없이 프로빙 및 자동 측정 요소 인식을 통해 수행됩니다.
다양한 소프트웨어 옵션은 O-INSPECT의 표준 곡선 기능 또는 통합 측정 보고서 소프트웨어 도구인 ZEISS PiWeb 리포팅과 같은 특수 요구 사항에 적합한 도구를 제공합니다.
ZEISS O-INSPECT 기술 데이터
ZEISS O-INSPECT 3/2/2
ZEISS O-INSPECT 5/4/3
ZEISS O-INSPECT 8/6/3
측정 부피
300 x 200 x 200 mm³
500 x 400 x 300 mm³
800 x 600 x 300 mm³
in 1D
1.6 μm + L/200 μm
1.4 μm + L/250 μm
1.5 μm + L/250 μm
길이 측정 오차 MPE(E)
300 x 200 x 200 mm³
3분의 5/4 500 x 400 x 300 mm³
3분의 8/6 800 x 600 x 300 mm³
in 2D
1.9 μm + L/150 μm
1.6 μm + L/250 μm
1.8 μm + L/250 μm
in 3D
2.4 μm + L/150 μm
1.9 μm + L/250 μm
2.2 μm + L/250 μm
Software
ZEISS CALYPSO
2D 광학 카메라 센서
ZEISS Discovery.V12
standard 100
작동 거리 87 mm, 0.5 x - 6.3 x, 센서 해상도 0.9 μm, 최대 시야: 16.1 mm x 12.0 mm
Option
scout 160
작동 거리 55 mm, 0.8 x - 10 x, 센서 해상도 0.6 μm, 최대 시야: 10.1 mm x 7.5 mm
scout 240
작동 거리 30 mm, 1.2x - 15 x, 센서 분해능 0.4 μm, 최대 시야: 6.7 mm x 5.0 mm
촉각 센서
ZEISS VAST XXT
VAST XXT TL 1
최대 40mm의 방사형 스타일러스 길이(스타 스타일러스); 스타일러스 팁 직경 0.1 - 8 mm
Option
VAST XXT TL 3
최대 65mm의 방사형 스타일러스 길이(스타 스타일러스); 스타일러스 팁 직경 0.3 - 8 mm